Orientador: Jose Antonio Siqueira Dias

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica

Resumo: Foram fabricadas amostras de cerâmicas semicondutoras MnNiCuFeO e estudadas as suas propriedades elétricas antes e depois da implantação de íons do tipo B, P, e Si seguida de recozimento térmico. A estrutura das amostras foi analisada com um medidor de refração de raio-X e com microscópico...

Resumo: Foram fabricadas amostras de cerâmicas semicondutoras MnNiCuFeO e estudadas as suas propriedades elétricas antes e depois da implantação de íons do tipo B, P, e Si seguida de recozimento térmico. A estrutura das amostras foi analisada com um medidor de refração de raio-X e com microscópico eletrônico de varredura. As propriedades elétricas das amostras são medidas antes e após a implantação dos íons, utilizando microonda elétrica, analisador de impedância de baixas freqüências, e sonda de resistência de espalhamento (spreading resistance). ... Observação: O resumo, na íntegra, poderá ser visualizado no texto completo da tese digital