Caracterização da superficie do silicio poroso por microscopia de força atomica

Caracterização da superficie do silicio poroso por microscopia de força atomica

Dahge Chiadin Chang

DISSERTAÇÃO

Português

(Broch.)

T/UNICAMP C362c

Campinas, SP : [s.n.], 1995.

99f. : il.

Orientadores: Vitor Baranauskas, Ioshiaki Doi

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica

Resumo: Após se descobrir que o silício pode emitir luz visível em uma condição bem particular, ou seja, através de uma excitação no estado poroso, foram feitos estudos sobre o fenômeno e se verificou que há uma relação da porosidade do silício com o comprimento de onda emitido. Esta propriedade de...

Abstract: After the discovery that silicon could emit visible light in porous state, many studies have been done to identify the relationship between the porosity of the silicon and the emitted light wavelenghí. The luminescente property makes possible wide range of potencial aplications. In this...

Caracterização da superficie do silicio poroso por microscopia de força atomica

Dahge Chiadin Chang


										

Caracterização da superficie do silicio poroso por microscopia de força atomica

Dahge Chiadin Chang

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