Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica

Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica

Gustavo Pires Marques

DISSERTAÇÃO

Português

T/UNICAMP M348a

[Analysis of the calibration potential of optical force through atomic force microscopy devices]

Campinas, SP : [s.n.], 2005.

95 f. : il.

Orientador: Carlos Lenz Cesar

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Física Gleb Wataghin

Resumo: O microscópio de força atômica é uma ferramenta que possibilita a medida de forças precisamente localizadas com resoluções no tempo, espaço e força jamais vistas. No coração deste instrumento está um sensor a base de uma viga (cantilever) que é responsável pelas características fundamentais...

Abstract: The atomic force microscope (AFM) is a tool that enables the measurement of precisely localized forces with unprecedented resolution in time, space and force. At the heart of this instrument is a cantilever probe that sets the fundamental features of the AFM. The objective of this research...

Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica

Gustavo Pires Marques


										

Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica

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