Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica
Marcelo Assaoka Hayashi
DISSERTAÇÃO
Português
T/UNICAMP H321d
Campinas, SP : [s.n.], 1995.
51 f. : il.
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso
Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin
Resumo: Não informado
Abstract: Not informed.
Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica
Marcelo Assaoka Hayashi
Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica
Marcelo Assaoka Hayashi
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