Orientador: Jose Antonio Siqueira Dias

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica

Resumo: Este trabalho comenta alguns aspectos importantes do teste automático de um cir­ cuito integrado digital. Apresenta os principais tipos de testes elétricos realizados por um equipamento automático de teste, comentando as diferenças dos testes dependendo da tecnologia do componente, nas...

Resumo: Este trabalho comenta alguns aspectos importantes do teste automático de um cir­ cuito integrado digital. Apresenta os principais tipos de testes elétricos realizados por um equipamento automático de teste, comentando as diferenças dos testes dependendo da tecnologia do componente, nas diversas fases da vida de um circuito integrado digital. São descritos, de forma suscinta, os principais mecanismos de falhas em CI's digitais e são apresentadas as principais medições elétricas necessárias para avaliar o desempenho de um circuito integrado. Descrevemos também o equipamento automático de teste (ATE) e sua linguagem de programação, comentando como esta máquina é im­portante para testar circuitos integrados digitais. O trabalho termina com dois programas de teste reais, escritos em Pascal, comentando os resultados das medições de cada programa

Abstract: This work comments some important aspects of the digital integrated circuit auto­matic test. It presents the most common electrical tests done by an Automatic Test Equipment - ATE. The test differences depending on chip technology in the various steps of the integrated circuit life are...

Abstract: This work comments some important aspects of the digital integrated circuit auto­matic test. It presents the most common electrical tests done by an Automatic Test Equipment - ATE. The test differences depending on chip technology in the various steps of the integrated circuit life are commented. The main IC's digital faults and failures mechanisms are commented in a introductory way. The principal electrical measurements necessary to estimate the performance of an digital IC¿s presented. The architecture and the language of the ATE is presented , discussing how this machine is important to test digital integrated circuits. The work ends with two real test programs, written in Pascal commenting the results of the measurements of each test program