Terminal de consulta web

Variação da resistividade elétrica de um filme fino devido à difusão de impurezas

Variação da resistividade elétrica de um filme fino devido à difusão de impurezas

Roberto de Toledo Assumpção

DISSERTAÇÃO

r d

T/UNICAMP As79v

Campinas, SP : [s.n.], 1980.

78 f. : il.

Orientador: Michael Moore Collver

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: A variação da condutividade elétrica de um filme fino metálico, quando este apresenta um gradiente de concentração de impurezas, é obtida numericamente. Utilizamos o tratamento de Fuchs-Sondheimer, que consiste em resolver a equação de Boltzmann com condições de contorno determinadas... Ver mais
Abstract: The change of thin metallic film electrical conductivity with a impurity concentration gradient is numerically obtained. We use the Fuchs-Sondheimer approach to solve the Boatsmann equation, introducing boundary conditions imposed by the external surfaces. The effect of impurities,... Ver mais

Aberto

Variação da resistividade elétrica de um filme fino devido à difusão de impurezas

Roberto de Toledo Assumpção

										

Variação da resistividade elétrica de um filme fino devido à difusão de impurezas

Roberto de Toledo Assumpção

    Exemplares

    Nº de exemplares: 2
    Não existem reservas para esta obra