Automatização de medidas fotomicrodensitométricas

Automatização de medidas fotomicrodensitométricas

Sibelius Lellis Vieira

DISSERTAÇÃO

Português

T/UNICAMP V673a

Campinas, SP : [s.n.], 1987.

106f. : il.

Orientador: Armando Turtelli Junior

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: Apresentamos neste trabalho um sistema de automatização de medidas em fotodensitometria microscópica. Basicamente, tais medidas se constituem em quantificar as relações entre a Intensidade de um feixe transmitindo a relação à Intensidade do feixe incidente em filmes de Raio-X. No processo de...

Abstract: Not informed.

Automatização de medidas fotomicrodensitométricas

Sibelius Lellis Vieira


										

Automatização de medidas fotomicrodensitométricas

Sibelius Lellis Vieira

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