Automatização de medidas fotomicrodensitométricas
Sibelius Lellis Vieira
DISSERTAÇÃO
Português
T/UNICAMP V673a
Campinas, SP : [s.n.], 1987.
106f. : il.
Orientador: Armando Turtelli Junior
Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin
Resumo: Apresentamos neste trabalho um sistema de automatização de medidas em fotodensitometria microscópica. Basicamente, tais medidas se constituem em quantificar as relações entre a Intensidade de um feixe transmitindo a relação à Intensidade do feixe incidente em filmes de Raio-X. No processo de...
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Resumo: Apresentamos neste trabalho um sistema de automatização de medidas em fotodensitometria microscópica. Basicamente, tais medidas se constituem em quantificar as relações entre a Intensidade de um feixe transmitindo a relação à Intensidade do feixe incidente em filmes de Raio-X. No processo de automatização, implementamos o hardware e o software de uma Interface inteligente, baseada no microprocessador Z80, cujo objetivo é controlar a aquisição de dados do Fotomicrodensitômetro. Além de controlar a aquisição e transmissão de dados, a Interface é responsável pelo comando do Motor de Passo acoplado ao equipamento. Tal sistema facilita a análise de dados dos filmes de Raio-X, bem como proporciona melhor resolução e confiabilidade às medidas
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Abstract: Not informed.
Automatização de medidas fotomicrodensitométricas
Sibelius Lellis Vieira
Automatização de medidas fotomicrodensitométricas
Sibelius Lellis Vieira
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