Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Remberto Jose Portugal Postigo

DISSERTAÇÃO

Português

T/UNICAMP P838m

Campinas, SP : [s.n.], 1979.

110 f. : il.

Orientador: Stephenson Caticha Ellis

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor...

Abstract: The sensitivity s of the measurement of lattice parameter by means of multiple diffraction ( MD ) of X-rays ( S. Caticha-Ellis, Jap, J. App1. Phys. ( 1975 ), 14, 603-611 ) is given by S = 1/( gtanf cos2q1 ), where g = /a, q1 is the Bragg angle for the primary reflection and f is the angle...

Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Remberto Jose Portugal Postigo


										

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