Orientador: Jose Joaquín Lunazzi

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: Através da compreenção e do estudo de um campo luminoso espalhado por uma superfície rugosa, quando sobre a mesma incide luz coerente, podemos determinar um parâmetro chamado desvio médio quadrático das alturas da superfície em questão, definindo-o como a rugosidade. Obtivemos para isto um...

Resumo: Através da compreenção e do estudo de um campo luminoso espalhado por uma superfície rugosa, quando sobre a mesma incide luz coerente, podemos determinar um parâmetro chamado desvio médio quadrático das alturas da superfície em questão, definindo-o como a rugosidade. Obtivemos para isto um sistema mais prático com possibilidade direta de acesso de dados ao microcomputador

Abstract: The measurement of roughness as an statistical mean over the height profile of a rough surface ( R.M.S ) was achieved through the knowledge and understanding of the light field that is scattered under coherent light illumination, obtaining an improved system for the detected technique. A...

Abstract: The measurement of roughness as an statistical mean over the height profile of a rough surface ( R.M.S ) was achieved through the knowledge and understanding of the light field that is scattered under coherent light illumination, obtaining an improved system for the detected technique. A microcomputer can now easily perform the data processing