Orientador: Jaime Frejlich

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: Neste trabalho foram abordados três importantes aspectos relacionados com o registro óptico holográfico em tempo real, utilizando cristais fotorrefrativos (Bi12SiO20e Bi12TiO20 ). Primeiro, determinamos experimentalmente os principais parâmetros físicos associados as propriedades de...

Resumo: Neste trabalho foram abordados três importantes aspectos relacionados com o registro óptico holográfico em tempo real, utilizando cristais fotorrefrativos (Bi12SiO20e Bi12TiO20 ). Primeiro, determinamos experimentalmente os principais parâmetros físicos associados as propriedades de transporte no efeito fotorrefrativo; em segundo lugar, analisamos o desempenho destes materiais em holografia dinâmica, comparados aos fototermoplásticos, tendo em vista aplicações atestes não-destrutivos e finalmente comprovamos que, numa mistura de duas ondas auto-estabilizada em tempo real, num fotorrefrativo, permite a estabilização da própria montagem holográfica e a medida simultânea do termo de interferência, fornecendo informações sobre o mecanismo de registro no material utilizado

Abstract: In this work were reported three importants features related to the real time holographic optical register, using photorefractives crystals (Bi12SiO20 and Bi12TiO20). First, we make experimentally determination of the principal parameters associated to the transport properties in...

Abstract: In this work were reported three importants features related to the real time holographic optical register, using photorefractives crystals (Bi12SiO20 and Bi12TiO20). First, we make experimentally determination of the principal parameters associated to the transport properties in photorefractive effect; secondly we analyzed the performance of these materials in dynamic holography compared to the phototermoplastic device for applications in non-destructives tests and finally, we proved that real time self-stabilized two wave mixing is used to make the proper holographic setup stabilization and simultaneously measure the interference term which allows to obtain relevant information¿s about the mechanism of register in the photorefractive material used.