Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Gilson de Lima Raeder

DISSERTAÇÃO

Português

(Broch.)

T/UNICAMP R121c

Campinas, SP : [s.n.], 1992.

120f. : il.

(Publicação FEE)

Orientador: Peter Jurgen Tatsch

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica

Resumo: Não informado

Abstract: Not informed.

Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Gilson de Lima Raeder


										

Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Gilson de Lima Raeder

    Exemplares