Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
Gilson de Lima Raeder
DISSERTAÇÃO
Português
(Broch.)
T/UNICAMP R121c
Campinas, SP : [s.n.], 1992.
120f. : il.
(Publicação FEE)
Orientador: Peter Jurgen Tatsch
Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica
Resumo: Não informado
Abstract: Not informed.
Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
Gilson de Lima Raeder
Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
Gilson de Lima Raeder
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