Padrões cefalometricos de Tweed, Steiner, Wylie e Downs aplicados a individuos brasileiros com oclusão normal
Maria Ignez Civolani
DISSERTAÇÃO
r d
T/UNICAMP C499p
Piracicaba, SP : [s.n.], 1977.
73 f. : il.
Orientador: Manoel Carlos Muller de Araujo
Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba
Resumo: Foi realizado estudo comparando medidas cefalometricas consideradas padrões por TWEED(51), STEINER (46), WILIE (54) e DOWS (15), com valores encontrados em 40 telerradiografias de indivíduos brasileirosleucodermas dotados de oclusão "normal", na faixa etária de 11 a 14 anos ¿ Observação: O...
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Resumo: Foi realizado estudo comparando medidas cefalometricas consideradas padrões por TWEED(51), STEINER (46), WILIE (54) e DOWS (15), com valores encontrados em 40 telerradiografias de indivíduos brasileirosleucodermas dotados de oclusão "normal", na faixa etária de 11 a 14 anos ¿ Observação: O resumo, na íntegra poderá ser visualizado no texto completo da tese digital
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Abstract: Not informed.
Aberto
Padrões cefalometricos de Tweed, Steiner, Wylie e Downs aplicados a individuos brasileiros com oclusão normal
Maria Ignez Civolani
Padrões cefalometricos de Tweed, Steiner, Wylie e Downs aplicados a individuos brasileiros com oclusão normal
Maria Ignez Civolani
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