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Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados

Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados

Maria Claudia Figueiredo Pereira Emer

TESE

Português

(Broch.)

T/UNICAMP Em32a

[Fault-based testing approach for data schemas]

Campinas, SP : [s.n.], 2007.

140p. : il.

Orientadores: Mario Jino, Silvia Regina Vergilio

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação

Resumo: Dados são manipulados em várias aplicações de software envolvendo operações críticas. Em tais aplicações assegurar a qualidade dos dados manipulados é fundamental. Esquemas de dados definem a estrutura lógica e os relacionamentos entre os dados. O teste de esquemas por meio de abordagens,... Ver mais
Abstract: Data are used in several software applications involving critical operations. In such applications to ensure the quality of the manipulated data is fundamental. Data schemas define the logical structure and the relationships among data. Testing schemas by means of specific testing... Ver mais

Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados

Maria Claudia Figueiredo Pereira Emer

										

Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados

Maria Claudia Figueiredo Pereira Emer

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