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Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

Laura Ramos de Freitas

TESE

Português

(Broch.)

T/UNICAMP F884c

[Contrast enhancement in photothermal microscopy of semiconductor devices by varying the probe wavelength]

Campinas, SP : [s.n.], 2005.

142 p. : il.

Orientador: Antonio Manoel Mansanares

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: A Microscopia Fototérmica de Reflexão vem sendo utilizada na investigação de dispositivos micro e opto-eletrônicos em operação, devido ao seu caráter não destrutivo e por não requerer contato com a superfície da amostra. Esta técnica se baseia na dependência da refletância da amostra com a... Ver mais
Abstract: Photothermal microscopy has been used as a suitable technique for the investigation of micro- and opto-electronic devices in operating cycle, because of its non-contact and non-destructive character. This technique is based on the dependence of the sample reflectance with temperature and... Ver mais

Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

Laura Ramos de Freitas

										

Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

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