Tecnicas de otimização para estimação de parametros de filmes finos
Sergio Drumond Ventura
TESE
Português
T/UNICAMP V567t
Campinas, SP : [s.n.], 2005.
110p. : il.
Orientadores : Jose Mario Martinez, Ernesto Julian Birgin
Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Matematica, Estatistica e Computação Cientifica
Resumo: Dentre os problemas inversos, a estimativa de parâmetros topticos tem significativa importância no estudo das propriedades fisicas de peliculas finas. Embora conhecido e estudado, não existem na atualidade tecnicas definitivas para a resolução deste problema. Para o problema direto, formulas...
Ver mais
Resumo: Dentre os problemas inversos, a estimativa de parâmetros topticos tem significativa importância no estudo das propriedades fisicas de peliculas finas. Embora conhecido e estudado, não existem na atualidade tecnicas definitivas para a resolução deste problema. Para o problema direto, formulas compactas foram desenvolvidas para contemplar o caso de multiplos filmes, além do caso de um filme apenas com dados de reflretância. O índice de refração, o coeficiente de absorção e a espessura de filmes finos foram recuperados utilizando para isso dados de transmissão e/ou reflexão para vários comprimentos de onda. A abordagem usada foi a de formular o problema inverso como um problema de otimização, via quadrados mínimos não-lineares. Váarios modelos distintos foram usados para lidar com o alto grau de indeterminação naturalmente oriundo deste tipo de problema. Testes numéricos foram realizados usando dados (de filmes) medidos e gerados numericamente, mostrando a eficácia das abordagens
Ver menos
Abstract: Among the inverse problems, the estimation of optical parameters has a great importance in the study of physical properties of thin problem. Up to the present time, there are no definitive techniques for the resolution of this problem. For the direct problem, compact fomulae were developed...
Ver mais
Abstract: Among the inverse problems, the estimation of optical parameters has a great importance in the study of physical properties of thin problem. Up to the present time, there are no definitive techniques for the resolution of this problem. For the direct problem, compact fomulae were developed for the case of multiple films. The refractive index, the absortion coefficient and the thickness of thin filmes were retrieved using transmission and/or reflection data, for many different wavelengths. The approach used was to reformulate the inverse problem as an optimization problem, via nonlinear least squares. Many different models were used to deal with the high degree of underdetermination which naturally arises from this kind of problem. Numerical tests were performed using measured and numerical generated (film) data, thus proving the effciency of the methods
Ver menos
Martínez Pérez, José Mario, 1948-
Orientador
Birgin, Ernesto Julián Goldberg
Coorientador
Friedlander, Ana, 1947-
Avaliador
Chambouleyron, Ivan Emilio, 1937-
Avaliador
Humes Junior, Carlos
Avaliador
Cuminato, José Alberto
Avaliador
Tecnicas de otimização para estimação de parametros de filmes finos
Sergio Drumond Ventura
Tecnicas de otimização para estimação de parametros de filmes finos
Sergio Drumond Ventura
Exemplares
Nº de exemplares: 2
Não existem reservas para esta obra