Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

Jing Guo Zhao

Material

TESE

Idioma

or

Número de chamada

T/UNICAMP J564c

Publicação

Campinas, SP : [s.n.], 2003.

Descrição física

32p. : il.

Nota geral

Orientador: Vitor Baranauskas

Nota de dissertação ou tese

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação

Direito de acesso

Aberto

Assuntos

Filmes finos

Ciência dos materiais

Topografia

Microscopia de força atômica

Autoria

Jing Guo, Zhao Autor

Baranauskas, Vitor, 1952-2014 Orientador

Sites

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Jing Guo Zhao

Jing Guo Zhao

Nº de exemplares: 2
Não existem reservas para esta obra

Informações do exemplar	Informações do exemplar	Nº de chamada	Biblioteca	Localização	Situação	QR Code
Tombo: 1150055779 Ano: 2003 Suporte: Impresso Nº de chamada: T/UNICAMP J564c Biblioteca : BAE Situação: Retido (Aguardando baixa patrimonial) Visualizar QR Code	Tombo: 1150055779 Ano: 2003 Suporte: Impresso	T/UNICAMP J564c	BAE		Retido (Aguardando baixa patrimonial)
Tombo: 1150055761 Ano: 2003 Suporte: Impresso Nº de chamada: T/UNICAMP J564c Biblioteca : BCCL Situação: Não circula Visualizar QR Code	Tombo: 1150055761 Ano: 2003 Suporte: Impresso	T/UNICAMP J564c	BCCL		Não circula

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