A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas

A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas

Sergio Luiz Morelhão

DISSERTAÇÃO

Português

T/UNICAMP M814d

Campinas, SP : [s.n.], 1990.

[78] f. : il.

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin

Resumo: Neste trabalho, é desenvolvido um método baseado na técnica de difração múltipla de raios-X, para caracterizar a discordância entre os parâmetros de rede da camada e do substrato, na direção paralela à interface camada/substrato. Esse método utiliza os casos de três feixes envolvendo as...

Abstract: Not informed

A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas

Sergio Luiz Morelhão


										

A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas

Sergio Luiz Morelhão

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