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Universalidade e leis de escalas em amostras de silício atacadas quimicamente

Universalidade e leis de escalas em amostras de silício atacadas quimicamente

Marta Elisa Rosso Dotto

TESE

Português

T/UNICAMP D742u

Campinas, SP : [s.n.], 2003.

172 p. : il.

Orientador: Mauricio Urban Kleinke

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin"

Resumo: A morfologia de superfícies de Si atacadas foi investigada por microscopia de força atômica (AFM). As amostras foram atacadas em distintas condições experimentais por uma solução de NaOH. Comportamentos lineares foram observados em gráficos log-log das flutuações das alturas ( D h) versus... Ver mais
Abstract: Morphology of etched Si surface has been investigated by atomic force microscope (AFM). Samples were etched by NaOH solution in distinct experimental condictions. Linear relationships were observed in log-log plots of height fluctuation ( D h ) versus length variation ( D l ), where the... Ver mais

Universalidade e leis de escalas em amostras de silício atacadas quimicamente

Marta Elisa Rosso Dotto

										

Universalidade e leis de escalas em amostras de silício atacadas quimicamente

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