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Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Manoel Cesar Valente Popes

TESE

Português

(Broch.)

T/UNICAMP L881e

Campinas, SP : [s.n.], 2000.

239p. : il.

Orientador: Vitor Baranauskas

Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação

Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Manoel Cesar Valente Popes

										

Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Manoel Cesar Valente Popes

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