Resumo: Buscando alternativa para a realização de testes paramétricos de circuitos em linha de produção, os quais consomem percentual significativo dos recursos, é demonstrada a viabilidade da aplicação de teste sistêmico para este fim. O método baseia-se no comportamento dinâmico não linear dos dispositivos, comportamento este que é analisado através de mapas obtidos do espaço de estado do sistema dinâmico. Os resultados obtidos demonstram que é possível a identificação de pequenas diferenças paramétricas entre dispositivos e portanto a aplicação do método para testes do tipo passa/não-passa em linha de produção, com redução do tempo de teste sem perda de testabilidade Ver menos

Abstract: Considering the fact that parametric test in integrated circuits manufacturing line is expensive and time consuming, a systemic go/no-go test type has been developed for time reduction. Using the dynamic nonlinear behavior of the electronic devices, the space states is studied through maps to identify parametric deviations of the device under test. The results show the feasibility of the method without reduction of the testability Ver menos