Orientador: Carlos Alberto dos Reis Filho

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica

Resumo: Este trabalho é composto por dois ítens principais. Primeiro, a proposição de uma nova configuração de um circuito "Sample-and-Hold', que tem como principal característica o cancelamento da tensão de offset e como segundo ítem, é apresentado um macromodelo que implementa o cálculo do erro...

Resumo: Este trabalho é composto por dois ítens principais. Primeiro, a proposição de uma nova configuração de um circuito "Sample-and-Hold', que tem como principal característica o cancelamento da tensão de offset e como segundo ítem, é apresentado um macromodelo que implementa o cálculo do erro causado pela injeção de carga em chaves NMOS. O trabalho está organizado da seguinte forma: No capítulo 1 é apresentado uma visão geral das técnicas mais utilizadas para construção de circuitos "Sample-and-Hold". No Capítulo 2, é apresentado um resumo das principais técnicas de cancelamento ou compensação da tensão de offset em amplificadores operacionais MOS. No Capítulo 3 é feita a proposição de um Macromodelo que visa o cálculo do erro causado pela injeção de carga que ocorre no momento de desligamento de chaves MOS. O Macromodelo, utiliza comandos SPICE e é implementado em ambiente Mentor Graphics. No Capítulo 4 é feita a apresentação de uma nova configuração de um circuito "Sample-and-Hold". Neste ponto é feita uma descrição funcional do novo circuito, incluindo resultados de simulação SPICE (ACCDSIM) e o layout do circuito integrado (CI) que será realizado utilizando o processo l.2um CMOS da AMS (Austria Micro System). Além do capítulos mencionados, foram incluidos três Apêndices. O primeiro, Apêndice A, inclui as listagens dos subcircuitos que compoem o macromodelo, o segundo, Apêndice B, corresponde às cópias de dois artigos, resultantes deste trabalho, que foram apresentados em congressos internacionais, e por fim o terceiro Apêndice apresenta a descrição SPICE do circuito obtido após extração do layout final

Abstract: Not informed