Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Leide Passos Cavalcanti

DISSERTAÇÃO

Português

T/UNICAMP C314c

Campinas, SP : [s.n.], 1995.

57 f. : il.

Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin"

Resumo: Este trabalho apresenta um estudo de filmes finos e ultrafinos por difração de raios-X com reflexão as simétrica e baixo ângulo de incidência através da utilização do Goniômetro de Guinier. O objetivo principal deste trabalho foi estudar de maneira geral as propriedades da difração por...

Abstract: In this work we present a study of thin and ultrathin3 films by X-Ray diffraction with asymmetric ref1ection and small incidence angle using a Guinier goniometer. The main purpose of this work was to study, in general, the properties of the diffraction by asymmetric ref1ection showing alI...

Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Leide Passos Cavalcanti


										

Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Leide Passos Cavalcanti

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