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dc.contributor.CRUESPUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASpt_BR
dc.descriptionOrientador: Lisandro Pavie Cardosopt_BR
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghinpt_BR
dc.format.extent51 f. : il.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.languagePortuguêspt_BR
dc.typeDISSERTAÇÃOpt_BR
dc.titleDifração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônicapt_BR
dc.contributor.authorHayashi, Marcelo Assaokapt_BR
dc.contributor.advisorCardoso, Lisandro Pavie, 1950-pt_BR
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghinpt_BR
dc.contributor.nameofprogramPrograma de Pós-Graduação em Físicapt_BR
dc.subjectRaios X - Difraçãopt_BR
dc.subjectImplantação iônicapt_BR
dc.subjectSemicondutorespt_BR
dc.description.abstractResumo: Não informadopt
dc.description.abstractAbstract: Not informed.en
dc.publisher[s.n.]pt_BR
dc.date.issued1995pt_BR
dc.identifier.citationHAYASHI, Marcelo Assaoka. Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica. 1995. 51 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278179. Acesso em: 19 jun. 2019.pt_BR
dc.description.degreelevelMestradopt_BR
dc.description.degreedisciplineFísicapt_BR
dc.description.degreenameMestre em Físicapt_BR
dc.date.defense1995-02-23T00:00:00Zpt_BR
dc.date.available2019-06-19T12:00:41Z-
dc.date.accessioned2019-06-19T12:00:41Z-
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2019-06-19T12:00:41Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Hayashi_MarceloAssaoka_M.pdf: 3391920 bytes, checksum: 644b6908248951f4dcb40e3eb2a5089b (MD5) Previous issue date: 1995en
dc.identifier.urihttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278179-
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