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dc.contributor.CRUESPUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASpt_BR
dc.descriptionOrientador: Hugo Luis Fragnitopt_BR
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghinpt_BR
dc.format.extent80f. : il.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.languagePortuguêspt_BR
dc.typeDISSERTAÇÃOpt_BR
dc.titleDesenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linearpt_BR
dc.contributor.authorDuarte, Alexandre Silvapt_BR
dc.contributor.advisorFragnito, Hugo Luis, 1950-pt_BR
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghinpt_BR
dc.contributor.nameofprogramPrograma de Pós-Graduação em Físicapt_BR
dc.subjectRefraçãopt_BR
dc.subjectSemicondutorespt_BR
dc.subjectVidropt_BR
dc.description.abstractResumo: Neste trabalho desenvolvemos um sistema de medição de índice de refração não linear n2, utilizando a técnica de varredura-Z. Com laser de Nd:YAG (l = 1.06mm). Medidas absolutas de n2 são possíveis com erro de ±10% entanto que, para medidas relativas, o erro é menor que ±0.5%. Mostramos que o alinhamento e calibração de todo sistema óptico e de medição, bem como um perfeito polimento da superfície da amostra são de importância fundamental para se conseguir medidas sensíveis, confiáveis e reprodutíveis. Fizemos medidas em vidros dopados com semicondutores (VDS) da Corning Glass ( CdSxSe1-x) e em (VDS) produzidos em nossos laboratórios (CdTe). Nos vidros da Corning obtivemos n2 de 3.7 a 6.1 X 10-15 cm2/W. Para as amostras de CdTe obtivemos n2 de 1.5 a 5.1 x10-14 cm2/W. Os grande valores de n2 observados nestes últimos são devidas a uma não linearidade ressonante de dois fótonspt
dc.description.abstractAbstract: In this work we have developed a system to measure the nonlinear refractive index n2 using the Z-scan technique. The incertainty in absolute measurements of n2 is ± 10% and in relative measurements is less than ± 0.5%. We show that the alignment and calibration of the whole optical and measuring system, as well as an accurate polishing of the sample surface are of fundamental importance to achieve sensitive, trustable and reproducible measurements. We have performed measurements in commercial semiconductor doped glasses (SDG) from Corning Glass (CdSxSe1-x) and in SDG samples prepared in our laboratories (CdTe). In the Corning samples we have obtained n2 ranging from 3.7 to 6.1 X 10-15 cm2/W .For CdTe samples we have obtained n2 ranging from 1.5 to 5.1 x 10-14 cm2/W .The large values of n2 observed in this ast material is due a resonant enhancement of the nonlinearity two photonen
dc.publisher[s.n.]pt_BR
dc.date.issued1993pt_BR
dc.identifier.citationDUARTE, Alexandre Silva. Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear. 1993. 80f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277920>. Acesso em: 18 jul. 2018.pt_BR
dc.description.degreelevelMestradopt_BR
dc.description.degreedisciplineFísicapt_BR
dc.description.degreenameMestre em Físicapt_BR
dc.date.defense1993-09-23T00:00:00Zpt_BR
dc.date.available2018-07-18T13:28:24Z-
dc.date.accessioned2018-07-18T13:28:24Z-
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2018-07-18T13:28:24Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Duarte_AlexandreSilva_M.pdf: 1974955 bytes, checksum: 2482e581f105c4891c3a438504476a45 (MD5) Previous issue date: 1993en
dc.identifier.urihttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277920-
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