Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

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Type:	TESE
Degree Level:	Doutorado
Title:	Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica
Author:	Jing Guo, Zhao
Advisor:	Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Subject:	Filmes finos Ciência dos materiais Topografia Microscopia de força atômica
Language:	Português
Editor:	[s.n.]
Citation:	JING GUO, Zhao. Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica. 2003. 32p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260318>. Acesso em: 3 ago. 2018.
Date Issue:	2003
Appears in Collections:	FEEC - Tese e Dissertação

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