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Type: TESE
Degree Level: Doutorado
Title: Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica
Author: Jing Guo, Zhao
Advisor: Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Subject: Filmes finos
Ciência dos materiais
Topografia
Microscopia de força atômica
Language: Português
Editor: [s.n.]
Citation: JING GUO, Zhao. Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica. 2003. 32p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260318>. Acesso em: 3 ago. 2018.
Date Issue: 2003
Appears in Collections:FEEC - Tese e Dissertação

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